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產品類別:X射線熒光元素分析儀

產品名稱:臻邁_日立XRF RoHS元素分析儀EA1000AIII

產品詳情


      臻邁_日立XRF RoHS元素分析儀EA1000AIII

EA1000AIII的優勢:
      大幅度的提高吞吐量

  ● 使用半導體檢測器/SDD檢測器
  ● 分析線自動切換
  ● 采用精度管理軟件
      提高操作性
  ● 材料判斷功能
  ● 波峰的自動解析和結果考察
  ● 數據的集中管理
      管理元素的增加
  ● 多元素對應

EA1000AIII功能特點:

 當含有元素的波峰重合時,儀器會自動根據統計誤差進行判斷,自動選擇最適合的分析線。


通過預存測量類別樣品的材質,自動選擇分析條件。

分析條件:為了正確的分析測量物質,對必要的設定條件,有害物質的濃度基準等根據不同的樣品材質進行設定。


EA1000AIII技術規格:
概述 測定原理:X射線熒光分析法
測定方法:能量色散型
測定對象:固體、液體、粉狀
測定范圍:鋁(13Al) ~ 鈾(92U)
X射線源 小型空冷式X射線管:Rh靶
X射線照射方向: 下方垂直照射型
管電壓: 5~50kv
管電流: 1~1000μA
冷卻方式: 空冷(包括風扇)
照射面積: φ1mm, φ3mm, φ5mm (3種自動交換)
一次濾光片:5種可切換(含OPEN)
檢測器 類型:Si半導體檢測器/ Vortex®SDD硅漂移探測器(均無需液氮)
制冷方式:電子制冷
計數方式:數字濾光片計數處理
分辨率:小于285 eV
樣品室 樣品尺寸:最大 W370mm x D320mm x H120mm
樣品觀察:彩色CCD攝影機
測定氣氛:大氣
數據處理部 主機:PC/AT互換機
內存:4GB(32bit)
HDD:500GB以上
分辨率:1024*768點以上
CD: CD-ROM驅動
OS: Windows7(32bit)
軟件 篩選分析:簡單操作軟件
定性分析:檢測/解析軟件
定量分析:工作曲線法 (Cd、Pb、Hg、Br、Cr、Cl)
          塊體分析FP法、薄膜分析FP法
應用性: 自動校正功能(能量校正,半峰寬校正)
時間節省功能:自動判別材質,自動選擇分析程式
分析結果建表功能
分析結果報告書創建功能
其他 溫度條件:10℃-30℃(溫度變化在2℃以內)
濕度條件:40%-70%(不結霜)
電源:AC100V-240V±10%,5A,帶地線插座
裝置尺寸:W520mm×D600mm×H445mm
裝置重量:60Kg

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